晶振負性阻抗測試方法以及優化方法

2022-08-20 17:45:02 字數 763 閱讀 4088

影響:負性阻抗是來判斷振盪電路穩定性的乙個引數,如果負性阻抗不匹配,那麼當振盪器隨著老化、溫度、電壓的變化將受到很大的影響。

測試方法:

首先使用晶振測試儀測出晶振的各種引數(因為不同晶振的等效串聯電阻相差較大因此不能使用規格書中所標的值)

如下圖在電路中串聯可變電阻vr。不斷增大vr直到晶振停止振盪。

粗略計算應該:vr+rr>5*rr

負性阻抗過小應對策略:

1. 適當同時減小電容cg以及cd。(如果使用此方法造成頻偏嚴重,可以考慮使用負載電容cl較小的晶振)

2. 減小cg增大cd。 (通過增大反饋係數,反饋係數應在0.

1~0.5之間不宜過大不宜過小。反饋係數的計算方法:

以接地點為分壓點計算分得的電壓,三次泛音同理計算)

3. 使用rr較小的晶振。

備註:方法1、2都會在一定程度上影響頻偏以及激勵功率,因此在調解的時候需要注意。

原理篇:

振盪電路由於器件本身的等效電阻存在,因此在沒有外部能量輸入的情況阻尼振盪,將會漸漸停止振盪。假如給電路引入乙個「負阻值」(阻值小於零)的器件與振盪電路中的阻值互相抵消,則振盪電路就能夠一直振盪下去。

可見,一旦受到原始的衝擊,併聯諧振迴路將產生電容中的電能和電感中的交替的轉換的特徵。振盪的幅度不斷的增加,隨著幅度的增加,負阻器件的平均電導不斷的減小直到與迴路的固有的相等時,電路建立起平衡。

由以上的計算可以看出,振盪電路的起振條件為負阻絕對值大於正阻。振盪穩定後負阻絕對值等於內阻。因此負性阻抗是乙個衡量振盪電路穩定性很重要的引數。